中国芯再下一城!国产白光干涉仪精度破1nm,直击半导体高端制造痛点
2025-03-27
优可测发布全新白光干涉仪AM8000,实现亚纳米级测量精度(小于1nm),支持大范围高精度检测,性能对标国际顶级品牌。该设备在半导体、精密光学等领域可适配更多镜头与样品,提升测量效率与稳定性,助力中国突破核心技术壁垒,推动智能制造发展。


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